Forschungsmöglichkeiten im Retina Netzwerk

RETINA ist ein Netzwerkprojekt von etablierten Forschungsinstitutionen aus dem Grenzgebiet Österreich – Slowenien im Bereich Materialwissenschaften. Dieses Projekt verfolgt das Ziel, kleinen, mittleren und großen Unternehmen aus dem Grenzgebiet einen einfachen Zugang zu diesem Forschungsnetzwerk zu bieten.

Nachfolgend finden Sie einen kurzen Überblick der Forschungsmöglichkeiten, die im RETINA Netzwerk zur Verfügung stehen:

Hauptschwerpunkt der Untersuchungsmöglichkeiten ist die Materialcharakterisierung, die sowohl anorganische Materialien als auch Polymerwerkstoffe (Kunststoffe) umfasst.

Einige Beispiele für Untersuchungsmöglichkeiten:

  • Optische Charakterisierung von Oberflächen in einer hohen Auflösung
  • Analyse von Mikro- bis hin zu Nanostrukturen
  • Charakterisierung von dünnen Schichten (nicht leitend, halbleitend und leitfähig)
  • Untersuchung von elektronischen und strukturellen Eigenschaften von Materialien
  • Physikalische und chemische Analyse von Materialien (z.B. Materialzusammensetzung)
  • Untersuchung von dreidimensionaler Strukturen
  • Charakterisierung von polymeren Werkstoffen unter verschiedenen Beanspruchungsarten (Zug, Druck und Biegung) und -formen (statisch, monoton, zyklisch)
  • Mechanische Untersuchungen an dünnen Schichten (auch ortsaufgelöst)
  • Thermomechanische Untersuchungen (z.B. Ausdehnungsverhalten unter Wärmeeinfluss)
  • Untersuchungen von thermischen Eigenschaften (z.B. Wärmeleitfähigkeit von Kunststoffen)
  • Untersuchung von Materialstabilität und Alterungsprozessen

 

Beispiele für Mess- und Charakterisierungstechniken, die im Rahmen von RETINA zur Verfügung stehen:

  • Elektronenmikroskopie (SEM-EDX)
  • Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
  • Raman-Mikroskopie
  • Infrarot-Spektroskopie
  • NMR-Spektroskopie
  • Tribometrie
  • Dynamisch-mechanische Prüfungen (DMA)
  • Nanoindentation
  • Mikro System Analyser
  • Surface Profiler
  • SAXS-Kleinwinkelröntgenstreuung (Synchrotron ELETTRA)
  • DXRL-Deep x ray lithography (Synchrotron ELETTRA)

 

Vollständige Liste der Messverfahren und nähere technische Details finden sie auf „Infrastruktur“.